国家知识产权局信息显示，上海华力集成电路制造有限公司申请一项名为“LOD效应测试单元的设计方法”的专利，公开号CN121596064A，申请日期为2025年11月。
专利摘要显示，本申请提供一种LOD效应测试单元的设计方法，包括：步骤一，根据环形振荡器标准单元结构，将LOD效应测试单元设计为具有非对称结构的第一测试单元和第二测试单元；步骤二，验证第一测试单元和第二测试单元的阈值电压平均化后是否等效于标准单元结构的阈值电压。采用LOD效应非对称测试结构的设计，更准确地评估标准单元INV4结构的LOD效应，简单可行。
天眼查资料显示，上海华力集成电路制造有限公司，成立于2016年，位于上海市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本2960000万人民币。通过天眼查大数据分析，上海华力集成电路制造有限公司参与招投标项目2095次，专利信息2740条，此外企业还拥有行政许可397个。
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